所描述的可能并非儀器所有內(nèi)容，誠(chéng)創(chuàng)立公司有權(quán)對(duì)本產(chǎn)品的性能、功能、內(nèi)部結(jié)構(gòu)、外觀、附件、包裝物等進(jìn)行改進(jìn)和提高而不作另行說(shuō)明！由此引起的說(shuō)明書(shū)與儀器不一致的困惑，可通過(guò)電話與我公司進(jìn)行聯(lián)系。下面小編給大家介紹關(guān)于精密四線線材測(cè)試機(jī)的一般測(cè)試參數(shù)設(shè)置的內(nèi)容，歡迎閱讀！

一般測(cè)試參數(shù)設(shè)置：

　　主要描述一般測(cè)試參數(shù)設(shè)置的操作步驟，為了能夠準(zhǔn)確的測(cè)試產(chǎn)品的數(shù)據(jù)，請(qǐng)嚴(yán)格按照以下步驟進(jìn)行參數(shù)設(shè)置，更改參數(shù)設(shè)置后，須按【Save】鍵保存到當(dāng)前檔案。

斷短路參數(shù)設(shè)置【O/S】：

　　斷短路測(cè)試是測(cè)試連接線在制作過(guò)程中是否發(fā)生斷線，短路或錯(cuò)位等不良問(wèn)題。CCL-W-I064 能夠準(zhǔn)確的測(cè)試出連接線不良位置及不良現(xiàn)象（斷線，短路，錯(cuò)位）。

　?。?）按【O/S】鍵進(jìn)入斷短路設(shè)置頁(yè)面

　　對(duì)應(yīng)的輔助鍵：

　　<一般學(xué)習(xí)>------【F1】

　　<分組方式>------【F2】

　　<上翻頁(yè)>---------【F3】

　　<下翻頁(yè)>---------【F4】

　　<參數(shù)設(shè)置>------【F6】

　　注：測(cè)試方式不同時(shí)，對(duì)應(yīng)的輔助鍵菜單會(huì)有所不同。

　　（2）按【F6】進(jìn)行參數(shù)設(shè)置。通過(guò)【↑】【↓】鍵移動(dòng)光標(biāo)選擇要設(shè)置的項(xiàng)目，按【Enter】鍵選擇要設(shè)置的參數(shù)，其中單邊靈敏度需通過(guò)數(shù)字鍵進(jìn)行設(shè)置。設(shè)置完成后按【Exit】返回。

　　◆測(cè)試方式：一般測(cè)試，單邊測(cè)試，點(diǎn)測(cè)

　　◆斷路電阻：500Ω ,1KΩ ，2KΩ ，5KΩ ，10KΩ ，20KΩ ，50KΩ，100KΩ

　　◆短路電阻：500Ω ,1KΩ ，2KΩ ，5KΩ ，10KΩ ，20KΩ ，50KΩ，100KΩ

　　◆判別 AB 端：開(kāi)啟，關(guān)閉

　　◆測(cè)試速度：慢速，中速，快速

　　◆單邊靈敏度：0-100（注：此參數(shù)在進(jìn)行單邊測(cè)試時(shí)才需要設(shè)置）

　　◆是否串接電容：是，否

　　（3）將待測(cè)產(chǎn)品樣品接入測(cè)試治具，然后按【F1】鍵，設(shè)備會(huì)自動(dòng)讀取線材網(wǎng)路。我們可以通過(guò)【F3】和【F4】鍵查看線材網(wǎng)路是否正確。確定正確后按【Save】鍵將將讀取的網(wǎng)路保存到當(dāng)前檔案。

　　注：屏幕下方的當(dāng)前檔案：123*表示該檔案的參數(shù)有變更，保存后*號(hào)會(huì)自動(dòng)消失。如下圖

導(dǎo)通電阻參數(shù)設(shè)置【Cond】：

　　導(dǎo)通電阻是測(cè)試連接線的導(dǎo)體電阻。導(dǎo)通電阻的測(cè)試條件還可以分別對(duì)每個(gè)連接點(diǎn)位設(shè)置。設(shè)置方法：

　　（1）按【Cond】鍵進(jìn)入導(dǎo)通電阻設(shè)置頁(yè)面：

　　對(duì)應(yīng)的輔助鍵：

　　<一般學(xué)習(xí)>------【F1】

　　<單次學(xué)習(xí)>------【F2】

　　<上翻頁(yè)>---------【F3】

　　<下翻頁(yè)>---------【F4】

　　<參數(shù)設(shè)置>------【F5】

　　<治具歸零>------【F6】

　?。?）按<一般學(xué)習(xí)>【F1】可以讀取線材產(chǎn)品所有連接點(diǎn)位的導(dǎo)通電阻值。

　?。?）按<單次學(xué)習(xí)>【F2】可以讀取線材產(chǎn)品單個(gè)連接點(diǎn)位的導(dǎo)通電阻值。

　　（4）按<上翻頁(yè)>【F3】和<下翻頁(yè)>【F4】進(jìn)行查看每個(gè)連接點(diǎn)位的導(dǎo)通電阻值。

　　（5）按【F5】進(jìn)行參數(shù)設(shè)置，通過(guò)【↑】【↓】鍵移動(dòng)光標(biāo)選擇要設(shè)置的項(xiàng)目。

　　<測(cè)試速度>按【Enter】鍵選擇，<導(dǎo)通值>和<誤差范圍>通過(guò)數(shù)字鍵盤輸入。設(shè)置完成后按【Exit】返回。

　　◆測(cè)試速度：慢速，中速，快速

　　◆上限值：0.001Ω -100Ω

　　◆誤差范圍：0.00-100

　?。?）為了能夠準(zhǔn)確的測(cè)試出產(chǎn)品的導(dǎo)通電阻數(shù)據(jù)，必須先做治具歸零。按【F6】進(jìn)行治具歸零。治具歸零分兩個(gè)步驟，第一步單邊歸零（開(kāi)路歸零），將待測(cè)產(chǎn)品從測(cè)試治具上拔出，按數(shù)字鍵【1】設(shè)備自動(dòng)進(jìn)行單邊歸零。第二步短路歸零，將測(cè)試治具最末端用短路好的插頭全部短路，按數(shù)字鍵【2】設(shè)備自動(dòng)進(jìn)行短路歸零。按【Exit】鍵返回，按【F1】進(jìn)行一般學(xué)習(xí)，重新讀入歸零后的每個(gè)連接點(diǎn)位的導(dǎo)通電阻值，按【Save】鍵保存。

　　? 歸零指測(cè)量治具及儀器的內(nèi)部的線路，將此作為機(jī)器內(nèi)帶參數(shù)。實(shí)際測(cè)試線材時(shí)，再減去這些治具及儀器內(nèi)部的影響，修正測(cè)量結(jié)果，以確保測(cè)量準(zhǔn)確度。本機(jī)在出廠前皆已進(jìn)行內(nèi)阻歸零，建議每三個(gè)月歸零一次以確保準(zhǔn)確度。

　　? 當(dāng)欲執(zhí)行治具內(nèi)阻歸零時(shí)，請(qǐng)先插好歸零治具。

　　? 若執(zhí)行內(nèi)阻歸零時(shí)，當(dāng)屏幕顯示{歸零頭未連接}時(shí)，請(qǐng)檢查 1.目前進(jìn)行的內(nèi)部阻抗歸零之 PORT 是否有插好歸零治具，2.歸零治具 64PIN 是否皆已完全短路。切記執(zhí)行治具內(nèi)阻歸零時(shí)，這兩個(gè)條件必須完全符合。

　　? 歸零治具為選購(gòu)配件

　?。?）如果要單獨(dú)對(duì)某個(gè)連接點(diǎn)位的導(dǎo)通電阻上限值進(jìn)行設(shè)置，在導(dǎo)通電阻設(shè)置畫(huà)面，通過(guò)【↑】【↓】鍵選擇到需要單獨(dú)設(shè)置的連接點(diǎn)位，按【Enter】此時(shí)系統(tǒng)會(huì)彈出參數(shù)設(shè)置框，然后通過(guò)數(shù)字鍵進(jìn)行參數(shù)設(shè)置，按【Enter】確認(rèn)輸入，按【Exit】返回。

元件測(cè)試參數(shù)設(shè)置【RCD】：

　　當(dāng)被測(cè)試線材中含有電阻、電容、二極管元件時(shí)，則需進(jìn)入元器件頁(yè)面設(shè)置相關(guān)參數(shù)。方法如下：

　?。?） 按【RCD】鍵進(jìn)入元器件參數(shù)設(shè)置頁(yè)面。對(duì)應(yīng)快捷按鍵：

　　<添加元件>-------【F1】

　　<元件測(cè)試>-------【F2】

　　<全部測(cè)試>-------【F3】

　　<編輯元件>-------【F4】

　　<復(fù)制元件>-------【F5】

　　<刪除元件>-------【F6】

　　（2） 按【F1】彈出添加元件窗口，通過(guò)【↑】【↓】按鍵選擇需要設(shè)置的參數(shù)。

　　請(qǐng)選擇元件類型：電阻、電容、單向二極管、雙向二極管，按【Enter】鍵切換。

　　測(cè)試項(xiàng)目：各測(cè)試項(xiàng)目是否選中，通過(guò)【Enter】按鍵切換；參數(shù)通過(guò)數(shù)字鍵輸入；或按快捷按鍵【F3】進(jìn)行學(xué)習(xí)，請(qǐng)回實(shí)際的值，但此方法需先正確設(shè)置下面的測(cè)試條件及連接點(diǎn)位。

　　測(cè)試條件：<測(cè)試電壓>指施加在元件上的測(cè)試電壓，范圍：10mV~8V。

　　<保持時(shí)間>范圍：10mS~3S。

　　此兩個(gè)參數(shù)通過(guò)數(shù)字鍵輸入。

　　? 連接點(diǎn)位：指該元件接入被測(cè)線材的網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)。 A、B 分別指測(cè)試左右兩個(gè)測(cè)試槽，通過(guò)【↑】【↓】按鍵將光標(biāo)移到需修改的測(cè)試點(diǎn)位上，按數(shù)字鍵修改點(diǎn)位，【Enter】鍵確認(rèn)，若元件分正、負(fù)方向的可通過(guò)快捷按鍵【F5】、【F6】切換測(cè)試槽 A、B，以對(duì)應(yīng)元件實(shí)際連接網(wǎng)絡(luò)。

　　以下分別為添加電阻、電容、單向二極管、雙向二極管的頁(yè)面：

高壓測(cè)試參數(shù)設(shè)置【Hipot】：

　?。?）按【Hipot】鍵進(jìn)入高壓測(cè)試參數(shù)設(shè)置頁(yè)面。包含 DC 參數(shù)設(shè)置，AC 參數(shù)設(shè)置，高壓測(cè)試方法?？梢酝ㄟ^(guò)【↑】【↓】鍵選擇需要設(shè)置的參數(shù)。其中DC 參數(shù)和 AC 參數(shù)的設(shè)置可以通過(guò)數(shù)字鍵修改，高壓測(cè)試方法的設(shè)置通過(guò)【Enter】選擇。

　　（2）DC 參數(shù)設(shè)置范圍：

　　DC 高壓：50V-1500V（每 50V 一段，共分 30 段，數(shù)字鍵輸入自動(dòng)取 50 整數(shù)倍）。

　　絕緣阻抗：1MΩ -1000MΩ ，最小步進(jìn) 1MΩ 。

　　高壓保持時(shí)間：0.001S-10S。

　　電弧偵測(cè)等級(jí)：0-10 級(jí)（當(dāng)設(shè)置為 0 級(jí)是不進(jìn)行電弧偵測(cè)）。

　　（3）AC 參數(shù)設(shè)置范圍：

　　AC 高壓：50V-1500V（每 50V 一段，共分 30 段，數(shù)字鍵輸入自動(dòng)取 50整數(shù)倍）。

　　AC 頻率：50/60Hz。

　　AC 歸零值：0-0.1mA。

　　漏電流：0.001-2mA。

　　高壓保持時(shí)間：0.001S-10S，步進(jìn)均為 1mS，數(shù)字鍵輸入，【Enter】鍵確認(rèn)。

　　電弧偵測(cè)等級(jí)：0-10 級(jí)（當(dāng)設(shè)置 0 級(jí)是不進(jìn)行電弧偵測(cè)）。

　?。?）高壓測(cè)試方法設(shè)置：

　　測(cè)試方式：最優(yōu)測(cè)試、二分快速、一對(duì)其他

　　自動(dòng)放電：是、否

　　空點(diǎn)測(cè)試：是、否

　　設(shè)置完成后，可按【F1】或【F2】進(jìn)行 DC 空測(cè)或 AC 空測(cè)，并把空測(cè)的實(shí)際高壓結(jié)果顯示在屏幕上。

　　告誡。空測(cè)高壓可能會(huì)對(duì)線材構(gòu)成損傷，所以進(jìn)行空測(cè)前請(qǐng)先將線材從治具上拔出。

測(cè)試內(nèi)容設(shè)置【Mode】：

　?。?） 按【Mode】鍵進(jìn)入測(cè)試內(nèi)容參數(shù)設(shè)置頁(yè)面。

　　包含測(cè)試時(shí)間、Remote 輸入輸出、各類測(cè)試項(xiàng)目開(kāi)關(guān)的設(shè)置?？梢酝ㄟ^(guò)【↑】【↓】鍵選擇需要設(shè)置的參數(shù)。其中時(shí)間參數(shù)和 Remote 點(diǎn)位參數(shù)的設(shè)置可以通過(guò)數(shù)字鍵修改，Remote 的輸入電平通過(guò)【Enter】鍵切換，測(cè)試項(xiàng)目開(kāi)關(guān)的設(shè)置通過(guò)對(duì)應(yīng)的快捷按鍵【F1】~【F6】設(shè)置，當(dāng)輸入時(shí)間時(shí)，【F2】、【F3】變?yōu)闀r(shí)間切換單位。

　?。?）測(cè)試時(shí)間：（步進(jìn)均為 1mS，數(shù)字鍵輸入，【Enter】鍵確認(rèn)）

　　OS 瞬短測(cè)試時(shí)間：1mS~10S。

　　OS 瞬斷測(cè)試時(shí)間：1mS~10S。

　　Cond 虛斷測(cè)試時(shí)間：1mS~10S。

　　電阻虛斷測(cè)試時(shí)間：1mS~10S。

　　定時(shí)模式間隔時(shí)間：1mS~10S，此為設(shè)置定時(shí)測(cè)試間隔時(shí)間。

　?。?）Remote 卡設(shè)置：

　　為了適應(yīng)自動(dòng)化測(cè)試的需要，本儀器增加 Remote 卡，可以輸入或輸出測(cè)試控制信號(hào)，不管使用輸入還是輸出，均需將 GND 引腳與外部設(shè)備電路的 GND 端連接起來(lái)。

　　此設(shè)置需與<系統(tǒng)>菜單中的<其他>-設(shè)置結(jié)合使用。見(jiàn)下圖。

　　啟動(dòng)輸入腳：設(shè)置外部控制啟動(dòng)測(cè)試的信號(hào)，依實(shí)際接到后面板 Remote卡端口的 1~4 進(jìn)行設(shè)置。

　　輸出共 6 組，可分別控制 6 個(gè) DC12V 的繼電器，前為組別選擇，后為繼電器控制方式：斷開(kāi)、閉合、先閉后斷、先斷后斷共 4 種方式，先通過(guò)【↑】【↓】鍵選擇需要設(shè)置的參數(shù)，按數(shù)字值選擇引腳或組別，按【Enter】鍵切換控制方式。

　　? 測(cè)試中 Remote 輸出：

　　? 異常時(shí) Remote 輸出：

　　? 正常時(shí) Remote 輸出：

　　警告。Remote 卡的輸入只能是 5V 的TTL 電平控制信號(hào)，輸出為 DC12V的繼電器閉合或斷開(kāi)的控制信號(hào)，不能作為供電電源使用。信號(hào)電平與對(duì)應(yīng)接口的不一致，可能會(huì)損害本儀器或外部設(shè)備。

（4）測(cè)試項(xiàng)目開(kāi)關(guān)設(shè)置：

　　 包括：OS 測(cè)試、導(dǎo)通測(cè)試、DC 絕緣測(cè)試、AC 耐壓測(cè)試、元件測(cè)試、搖擺測(cè)試，分別通過(guò)：【F1】~【F6】進(jìn)行開(kāi)啟或關(guān)閉的切換。

　　以上參數(shù)設(shè)置完成后，即可進(jìn)行一般線材測(cè)試。

　　 （1）按【TEST】啟動(dòng)測(cè)試，同時(shí)打開(kāi)測(cè)試任務(wù)頁(yè)面。測(cè)試過(guò)程如圖：

　　測(cè)試過(guò)程完成后，屏幕會(huì)提示測(cè)試結(jié)果。若顯示“良品”，表示線材通過(guò)本檔案設(shè)定的測(cè)試條件，同時(shí)顯示測(cè)試耗時(shí)時(shí)間。請(qǐng)拔出線材，重新接上待測(cè)線材，按【TEST】鍵繼續(xù)測(cè)試任務(wù)。拔出線材后，屏幕頂部的總數(shù)、良品、不良品數(shù)據(jù)會(huì)更新。

　?。?）錯(cuò)誤解鎖：為了更好的進(jìn)行品質(zhì)管理，當(dāng)測(cè)試的線材不良品數(shù)量超過(guò)預(yù)設(shè)時(shí)，測(cè)試機(jī)將鎖住，不能繼續(xù)測(cè)試（【TEST】按鍵無(wú)效）。需相應(yīng)的管控人員解鎖才行，按<錯(cuò)誤解鎖>【F1】，輸入正確密碼即可。

　　（3）結(jié)果顯示：按快捷鍵【F2】彈出結(jié)果顯示模式切換窗口后，按對(duì)應(yīng)的數(shù)字鍵即可，選中的模式前會(huì)有個(gè)黃色方框。3 種顯示模式：

　　?1.顯示測(cè)量結(jié)果

　　?2.顯示錯(cuò)誤信息

　　?3.顯示測(cè)試信息

　　顯示的結(jié)果信息若超過(guò)一頁(yè)的時(shí)，可通過(guò)【F4】、【F5】進(jìn)行上下翻頁(yè)。

　?。?）測(cè)試選項(xiàng)：按【F3】彈出“測(cè)試選項(xiàng)”窗口，再按選項(xiàng)前對(duì)應(yīng)的數(shù)字鍵即可切換，選中的模式前會(huì)有個(gè)黃色方框。4 種顯示模式：

　　?1.自動(dòng)識(shí)別

　　?2.定時(shí)模式，定時(shí)間隔時(shí)間設(shè)置見(jiàn)“測(cè)試內(nèi)容頁(yè)面設(shè)置”

　　?3.外部觸發(fā)，手動(dòng)按【TEST】鍵進(jìn)行測(cè)試或由 Remote 卡輸入信號(hào)控制啟動(dòng)測(cè)試

　　?4.循環(huán)測(cè)試

　　（5）統(tǒng)計(jì)信息：按【F4】彈出“統(tǒng)計(jì)信息”窗口，再按選項(xiàng)前對(duì)應(yīng)的數(shù)字鍵即可切換，選中的模式前會(huì)有個(gè)黃色方框。5 種顯示模式：

　　?1.不顯示

　　?2.顯示單天記錄

　　?3.顯示本周記錄

　　?4.顯示本月記錄

　　?5.顯示全部記錄

查看測(cè)試報(bào)告【Report】：

　　按【Report】鍵，打開(kāi)線材測(cè)試報(bào)告頁(yè)面。該頁(yè)面詳細(xì)列出了測(cè)試的信息，如測(cè)試檔案、測(cè)試條件、測(cè)試結(jié)果、測(cè)試數(shù)據(jù)等。通過(guò)【↑】【↓】按鍵進(jìn)行翻頁(yè)。如圖：